Determinación del Espesor e Índice de Refracción de Capas Delgadas Epitaxiales de CdxZn(1-x)Se a partir de Espectros de Reflectancia

Resumen

En este trabajo se reporta el cálculo de espesores e índices de refracción para capas delgadas y epitaxiales de CdxZn(1-x)Se usando sus espectros de reflectancia. El uso de una función de ajuste con un argumento oscilatorio similar al del coeficiente de reflectividad de la heterostructura permitió simplificar el análisis de los espectros de reflectancia. El espesor de las capas se obtuvo considerando los datos del índice de refracción con la energía del fotón y la composición de la aleación reportados por Suzuki et al.1 . Para este calculo sólo se consideró la región espectral que ha sido confirmada experimentalmente (región de transparencia de la aleación por encima de 1.4 eV). Además, se comprueba que la ley de dispersión del índice de refracción de las capas delgadas epitaxiales de CdxZn(1-x)Se se puede expresar con buena aproximación en términos de una relación empírica similar al modelo del oscilador simple efectivo de Wemple - DiDomenico para toda la región de transparencia; y se presenta la extrapolación de esta ley para todo el rango de composición de la aleación. Estos resultados facilitarán el análisis y diseño de dispositivos optoelectronicos en base a capas delgadas de esta aleación.