Empleo de Método de Convolución a Intervalos Lineales en Perfiles de Difracción de Rayos-X
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Palabras clave

Difrección de Rayos X
Microestructura
Defectos cristalinos
Análisis de Fourier

Cómo citar

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Empleo De Método De Convolución a Intervalos Lineales En Perfiles De Difracción De Rayos-X. Rev. Cubana Fis. 2024, 41 (1), 16-21.

Resumen

Se presenta un formalismo matemático para el cálculo del perfil intrínseco de un máximo de difracción através de un proceso de convolución usando un conjunto de funciones lineales por intervalos. Este proceso de convolución es implementado en el formalismo para las olución directa de un patrón de difracción de una estructura cristalina de capas afectada por defectos planares. Este procedimiento permite calcular la longitud de correlación (ΔC), cantidad que describe el grado de desorden en este tipo de estructuras cristalinas. El resultado obtenido es validado através del método de Warren–Averbach para el análisis microestructural.

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